表面缺陷检测,可以用到的光源,比如CCS光源的同轴光源LFV3系列,它从与相机同轴的方向均匀的照射扩散光。
光源通过漫射板发散打到半透半反射分光片上,该分光片将光反射到物体上,再由物体反射到镜头中。
由于物体反射后的光与相机处于同一个轴线上,因此,此种方式的光源被称之为同轴光源。
它有两大作用: 筛选与相机同轴的光线由于其特殊的光学设计,能够同时筛选射向物方和像方的光线,使用得当可以让机器视觉检测更加便捷清…。
表面缺陷检测,可以用到的光源,比如CCS光源的同轴光源LFV3系列,它从与相机同轴的方向均匀的照射扩散光。
光源通过漫射板发散打到半透半反射分光片上,该分光片将光反射到物体上,再由物体反射到镜头中。
由于物体反射后的光与相机处于同一个轴线上,因此,此种方式的光源被称之为同轴光源。
它有两大作用: 筛选与相机同轴的光线由于其特殊的光学设计,能够同时筛选射向物方和像方的光线,使用得当可以让机器视觉检测更加便捷清…。